Son yıllarda ülkemizde taramalı elektron mikroskop sayısının artmasıyla birlikte, bu cihazı etkin bir şekilde kullanabilecek yeterli eğitimli araştırmacı ihtiyacı da artmıştır. Bu ihtiyacı karşılamaya yönelik ODTÜ Merkez Laboratuvarı olarak, Sürekli Eğitim Merkezi işbirliği ile taramalı elektron mikroskobu ile çalışan araştırmacılara yönelik 5 günlük bir eğitim programı düzenlenmiştir. Taramalı Elektron Mikroskopu Sertifika Programı’nın en genel amacı, üniversitelerin ve endüstrinin Ar-Ge çalışmalarında kullandığı taramalı elektron mikroskoplarını verimli ve bilinçli kullanacak kullanıcılar yetiştirmektir.

• 'Üniversite veya Yüksek Okulu bitirmiş olmak', Program'a katılmak için yeterli koşuldur.
• Ancak, başvuran sayısı fazla olduğu ve seçim sözkonusu olduğunda:
  • Üniversitelerin sırasıyla fizik, elektronik ,bölümlerini bitirenlere ve
  • En az bir yıllık iş/çalışma deneyimi olanlara , ve
  • Belli (terimleri anlayacak) düzeyde İngilizce bilenlere öncelik verilir.

19.9.2022

6 kişi (kontenjan doldu)

Programın toplam süresi 30 ders saatidir. 15 saat teorik, 8 saat cihaz başında ve 7 saat katılımcı uygulamalı toplam 30 saat olacak şekilde dersler 1 haftaya yayılacaktır.

Eğitim dili Türkçe'dir.

Eğitim materyalleri İngilizce'dir.

• Programın son gününde öğleden sonra, ağırlığı % 50 olan teorik bir sınav uygulanır.
• Teorik sınav sonrasında, ağırlığı % 50 olan uygulama sınavı uygulanır.
• Sertifika sınavına girebilmek için programda bulunan her bir dersin en az %75 (3/4) ine devam etme koşulu aranır.
• Her iki sınav sonucunda toplamda %70 başarı gösterenlere "Sertifika", % 70’in altında başarı gösterenlere "Katılım Belgesi" verilir.
• Sınavda başarısız olanlara sonraki programın bitimindeki sınava girme hakkı verilir.

• Öğr. Gör. Sedat Canlı (Program Koordinatörü), Merkez Laboratuvarı
• Araş. Gör. Seçkin Öztürk, Merkez Laboratuvarı

Teorik Ders Konuları:
Elektron Mikroskobuna Giriş 
Optik, Elektron Optiği 
Elektron Malzeme Etkileşimi 
Görüntüleme Teknikleri 
Analitik Metodlar 
Örnek Hazırlama 
Uygulamalı Ders Konuları:
Temel Mikroskop Ayarları 
İkincil Elektron Görüntüleme 
Mikroskop Modları ( SEI, BSEI, Low Vacuum Mode, ESEM) 
Analitik Uygulamalar (EDS, WDS, EBSD) 
Örnek Hazırlama 
Katılımcı Uygulamaları